12、13日は小倉に出張してJaSSTに参加しています。一度参加してみたかったものの、開催地が東京だったり,九州で開催されても講義の都合で出席できませんでした。とりあえず参加して雰囲気を知りたいと思いまして。もちろん、最新のテスト関係の情報収集も兼ねて。
参加者は概ね九州内の企業の方、あとは組み込み系やテスト関係の支援ソフトウェアのベンダーさんのようでした。プロダクトライン開発の勉強会もあり、九州国際テクノフェアも併設されており、有意義な時間が過ごせました。明日もあります。会場は小倉北口の西日本総合展示場です。特急(ソニック)で移動すると博多からでもそれほど遠くありません。
講演者の先生のお話からいろいろな情報が得られましたが、意外だな。。。と思った(というより私がムチなだけ)のは、以下の著書がテストについて書かれた最初の本だということです。
- 作者: G.J.マイヤーズ
- 出版社/メーカー: 近代科学社
- 発売日: 1980/03
- メディア: 単行本
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あと、最近、この第2版がでたということ。
- 作者: J.マイヤーズ,M.トーマス,T.バジェット,C.サンドラー,Glenford J. Myers,Todd M. Thomas,Tom Badgett,Corey Sandler,長尾真,松尾正信
- 出版社/メーカー: 近代科学社
- 発売日: 2006/08/01
- メディア: 単行本
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あとはテストツールベンダーの方のお話を聞いていて、MC/DCテストに対応していることがウリ!?だということです。そもそもMC/DCという言葉が初耳だったのでいい勉強になりました。
明日は直交表のツール自作演習があるようです。直交表という言葉はもちろん聞いたことはありましたが。。。実際に仕事で直交表を使った経験がありませんでした。ぜひ、体験したかったのでちょうどよい機会です。しかも現場の方から学べるなんて素敵です。もし面白ければ来年の授業に取り入れようと思います。